检测项目
1.元素成分分析：质量范围1-300amu，相对标准偏差≤0.005%
2.同位素比值测定：丰度灵敏度≥110-6，质量分辨率＞10,000
3.痕量杂质检测：检出限≤0.1ppb（As,Hg,Cd,Pb等重金属）
4.分子结构解析：质量精度＜2ppm（MS/MS模式）
5.表面污染物分析：深度分辨率5nm（配合离子溅射源）
检测范围
1.半导体材料：高纯硅片（纯度≥99.9999%）、GaN外延层组分分析
2.环境样品：土壤重金属形态分析（Cr6+/Cr3+）、大气PM2.5成分溯源
3.生物医药：蛋白质分子量测定（范围5-200kDa）、药物代谢产物鉴定
4.核工业材料：铀同位素丰度比（235U/238U）、核燃料包壳杂质分析
5.地质样品：锆石U-Pb定年（年龄误差1Ma）、稀土元素配分模式
检测方法
1.ASTME1504-22《高纯金属中痕量元素的质谱分析方法》
2.ISO15366-1:2023《核燃料循环材料中铀同位素分析的化学分离与质谱法》
3.GB/T32465-2016《半导体材料中杂质元素的辉光放电质谱法》
4.ISO17294-2:2022《水质-电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)应用指南》
5.GB/T40111-2021《大气细颗粒物中无机元素的测定电感耦合等离子体质谱法》
检测设备
1.ThermoFisherNeomaMC-ICP-MS：多接收器系统（ε=10-12A），同位素比值精度0.002%RSD
2.Agilent8900TripleQuadrupoleLC-MS/MS：质量轴稳定性0.1amu/24h，扫描速度20,000amu/s
3.NuInstrumentsSapphireTOF-ICP-MS：时间飞行质量分析器（质量范围1-270amu），瞬时采集速率1GHz
4.ShimadzuICPMS-2030：碰撞反应池技术（He/H2/O2模式），检出限＜0.1ppt（In）
5.PerkinElmerNexION350D：三锥接口设计（采样深度可调0-15mm），耐高基体能力＞25%TDS
6.BrukertimsTOFPro2：捕获离子迁移谱（CCS值精度＜0.5%），4D蛋白质组学分析
7.JEOLJMS-T2000GCAccuTOFGC-Alpha：EI/CI双电离源（质量范围10-20,000Da），GC联用保留时间偏差＜0.05min
8.WatersXevoTQ-XS：StepWaveXS离子导向技术（信噪比提升10倍），MRM通道数＞3000个/次
9.SCIEXTripleTOF6600+：SWATH全息采集模式（窗口宽度5Da），数据采集速度100Hz
10.AnalytikJenaPlasmaQuantMSElite：四极杆质量过滤器（带宽0.3-3amu可调），动态线性范围12个数量级
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
